射頻導納物位計的測量原理

2020-06-30

傳統(tǒng)的電容式物位計，隨著物位上漲、物料覆蓋探頭，電路中探頭和介質(zhì)之間的電容值（導電物料場合）或者探頭和管壁之間的電容值（絕緣物料場合）隨之增加。由于物位的變化導致了電容橋的失衡，所以電容值的變化取決于被測物料的介電常數(shù)。然后通過對信號的檢波、放大，最后輸出相應(yīng)的信號。然而，電容式物位儀表有一些缺點，特別是當探頭有掛料的時候會嚴重影響測量結(jié)果。

  射頻導納測量技術(shù)是具有獨特優(yōu)勢的物位測量技術(shù)。雖然跟一般的電容式測量技術(shù)的概念很相似，但是射頻導納技術(shù)在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路，因此能夠?qū)崿F(xiàn)阻抗和容抗的單獨測量。通過物理定律計算可得，任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由掛料產(chǎn)生的影響能夠被測量出來并且通過振蕩電路的移相，從總的輸出中消除。

  射頻導納產(chǎn)品的探頭安裝在儲料罐中，通過探頭獲得物位變化引起的射頻信號的變化。

  探頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成回路，保證了儀表測量的準確性。

  射頻導納技術(shù)測量結(jié)果精度高，并且不受探頭掛料的影響，是目前使用場合最廣泛的一種測量技術(shù)。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強壓場合、從超短量程到120米超大量程，都能夠正常應(yīng)用，并且能夠應(yīng)用于不同類型的物料。

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